?38DL PLUS超聲測厚儀對內(nèi)部腐蝕的金屬材料進行厚度測量

38DL PLUS測厚儀的一個主要應用是測量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、外殼及其他結構的剩余厚度。這些應用中zui常使用的是雙晶探頭。
• 用于標準D79X系列雙晶探頭的自動探頭識別功能。
• 10個自定義雙晶探頭設置。
• 校準過程中用于雙晶探頭的優(yōu)化默認增益。
• 用于自定義V聲程補償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。
• 校準過程中出現(xiàn)回波加倍時使用的校準加倍功能。
• 用于測量帶有漆層和涂層表面的材料的穿透涂層和回波到回波測量功能。
• 高溫測量：溫度可高達500°C。
• 鍋爐管件和內(nèi)部氧化層測量（可選項），使用M2017或M2091單晶探頭。
• EMAT探頭（E110-SB），用于對外部附有氧化層/沉積物的鍋爐管件進行不使用耦合劑的厚度測量。

38DL PLUS超聲測厚儀穿透涂層技術

使用單個底面回波測量金屬的實際厚度。使用這個技術可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，要測量金屬的厚度，不再需要減去表面的漆層和涂層。穿透涂層測量技術使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。

38DL PLUS超聲測厚儀溫度補償

材料中的溫度差異會影響材料聲速和厚度測量的精確性。用戶使用溫度補償功能可以手動輸入校準試塊的溫度值和測量時的實際（高）溫度值。38DL PLUS自動顯示經(jīng)過溫度校正的厚度值。

氧化層/沉積物測量（可選項）

38DL PLUS使用高級算法測量鍋爐管件內(nèi)壁氧化層/沉積物的厚度。測厚儀同時顯示鍋爐管件的金屬基底厚度和氧化層的厚度。了解氧化層/沉積物的厚度可以預測管件的壽命。建議在此項應用中使用M2017或M2091探頭。

38DL PLUS超聲測厚儀V聲程創(chuàng)建功能

用戶使用這項正等待通過的新功能可以為幾乎所有雙晶探頭創(chuàng)建一條自定義V聲程補償曲線。在為大多數(shù)雙晶探頭保存和調(diào)用自定義設置時，這條曲線也被同時保存和調(diào)用。

用戶只需校準并輸入已知厚度值（zui小3個校準點；zui大10個校準點），儀器就會創(chuàng)建V聲程補償曲線。

38DL PLUS超聲測厚儀自動探頭識別

所有標準的雙晶探頭都具有自動探頭識別功能。這個功能可以為每種不同類型的探頭自動調(diào)用默認V聲程校正。

?38DL PLUS超聲測厚儀對塑料、金屬、復合材料、玻璃、橡膠及陶瓷材料進行厚度測量

用戶使用單晶探頭可以精確測量金屬、塑料、復合材料、玻璃、陶瓷及其他材料的厚度。我們提供各種頻率、直徑和接口類型的單晶探頭。用戶使用高分辨率軟件選項可以進行分辨率為0.001毫米的極其精確的厚度測量。
• 對于所有探頭，標準分辨率為0.01毫米。
• 在使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭的情況下，高分辨率軟件選項可顯示分辨率高達0.001毫米的測量值。
• 高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
• 多層軟件選項可對多達4個不同層的厚度同時進行測量。
• 測量厚度、聲速或渡越時間。
• 帶有默認和自定義設置的自動調(diào)用應用簡化了厚度測量。

38DL PLUS超聲測厚儀高穿透軟件選項

用戶使用這個選項可在使用低頻單晶探頭（低到0.5 MHz）的情況下，測量橡膠、纖維玻璃、鑄件及復合材料等較厚或聲波衰減性較強的材料。

38DL PLUS超聲測厚儀多層軟件選項

這個軟件選項計算并同時顯示多達4個不同層的厚度測量值

這個功能還可顯示所選各層的總厚度。典型的應用包括對塑料燃料箱中的阻擋層、瓶子的預成型坯及軟性隱型眼睛進行的厚度測量。

38DL PLUS超聲測厚儀數(shù)據(jù)記錄器和PC機接口

38DL PLUS測厚儀帶有一個功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可方便地收集和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。
• 內(nèi)置存儲容量為475000個厚度讀數(shù)或20000個帶有厚度讀數(shù)的波形。
• 32位字符的文件名稱。
• 20位字符的ID# （TML#）編碼。
• 9個文件格式：增量型、序列型、帶自定義點的序列型、2-D柵格型、帶自定義點的2-D柵格型、3-D柵格型、3-D自定義型、鍋爐型及手動型。
• 每個ID# （TML）編碼可zui多存儲4個注釋。
• 注釋可存儲到一個ID#編碼上或存儲到一系列ID#編碼上。
• 內(nèi)置和外置MicroSD存儲卡。
• 可以在內(nèi)置和外置MicroSD存儲卡之間拷貝文件。
• 標準USB和RS-232通信。
• 單晶和雙晶探頭設置的雙向傳輸。
• 機載統(tǒng)計報告。
• 機載DB柵格視圖，帶有3種可編程的顏色。
• GageView接口程序通過USB或RS-232端口與38DL PLUS測厚儀通信，可以讀取MicroSD存儲卡上的數(shù)據(jù)，還可以在存儲卡上寫入信息。
• 可將內(nèi)部文件以與Excel兼容的CSV（以逗號分隔值）格式直接導出到MicroSD存儲卡。

GageView™

• 基于Windows的GageView接口程序用于收集、創(chuàng)建、打印及管理來自38DL PLUS測厚儀的數(shù)據(jù)。
• 創(chuàng)建數(shù)據(jù)集和測量總結。
• 編輯所存數(shù)據(jù)。
• 顯示數(shù)據(jù)集和測量總結文件，文件包含厚度讀數(shù)、測厚儀設置值及探頭設置值。
• 從測厚儀上下載厚度測量總結，或上傳厚度測量總結至測厚儀。
• 將測量總結導出到電子表格及其他程序。
• 收集捕獲的屏幕。
• 打印有關厚度、設置表格、統(tǒng)計及彩色柵格的報告。
• 升級操作軟件。
• 下載和上傳單晶和雙晶探頭設置文件。
• B掃描回顧

38DL PLUS超聲測厚儀標準配置

38DL PLUS數(shù)字式超聲測厚儀，交流電源或電池供電，50 Hz～60 Hz。
標準雙晶探頭套裝盒
• 充電器/AC適配器（100 VAC、115 VAC、230 VAC）
• 內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器
• GageView接口程序
• 試塊和耦合劑
• USB線纜
• 橡膠保護套，帶有支架和頸掛帶
• 用戶手冊
• 兩年有限擔保
38DLPLUS測量功能：穿透涂層、穿透漆層回波到回波、EMAT兼容、zui小值/zui大值模式、兩個報警模式、差分模式、B掃描、自動調(diào)用應用、溫度補償、平均值/zui小值模式